¡@¡@¡@¡@IP core library

¡@¡@¡@¡@Design-for-Manufacturing Tools for High-Performance ICs

¡@¡@¡@¡@Comprehensive prognostic solution from die level to system




¡@¡@¡@¡@High speed/high resolution ADC/DAC converter

¡@¡@¡@¡@Band Gap Reference (BGR)

¡@¡@¡@¡@OP amp

¡@¡@¡@¡@Design service


¡@¡@¡@¡@PDKCheck - Independent Die-Level Process Monitor

¡@¡@¡@¡@¡@¡@-Ridgetop¡¦s PDKChek measures die-level process-induced
¡@¡@¡@¡@¡@¡@ variations, both random and systematic, in MOS transistor
¡@¡@¡@¡@¡@¡@ threshold voltage (VT), resistance, capacitance, and turn
¡@¡@¡@¡@¡@¡@ on/off current.



¡@¡@¡@¡@¡@- Independent Die-Level Fab Process Monitoring Tools



¡@¡@¡@¡@TDDB EPU

¡@¡@¡@¡@¡@ ¡VTime-Dependent Dielectric Breakdown Electronic Prognostics

¡@¡@¡@¡@NBTI EPU

¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡VNegative Bias Temperature Instability Electronic Prognostic

¡@¡@¡@¡@Radiation-Hardened Design Services


¡@¡@¡@¡@Design for Condition-Base Maintenance